La Diffraction RX est une technique de base de caractérisation des matériaux. Il permet la détermination et l’identification de phases inconnues, minérales, organiques ou inorganiques. Plusieurs services sont offerts: - Analyse et identification par diffraction d'échantillons poly-cristallins - Analyse par diffraction de films ou de fibres. - Diffraction/diffusion aux petits angles - Analyse par diffraction avec températures variables pour l'étude de transformation ou de transitions de phases - Analyse de texture et de microstructureL’appareil est équipé de: - Goniomètre de configuration Bragg-Brentano θ-2θ- Détecteur à scintillation; type NaI- Contrôleur de température de l’ambiante jusqu’à 1200°C - Vitesse d’acquisition 0.05 – 25 °/min (θ) - Reproductibilité de mesure: ± 0,001° (2θ)
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